تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۶,۶۷ ثانیه یافت شد.

1. Self-testing VLSI design

المؤلف: / V.N. Yarmolik, I.V. Kachan

المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)

موضوع: Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Integrated circuits - Very large scale integration - Design

رده :

TK

7874

.

I16

1993

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها